STM-Rastertunnelmikroskop

Mit Hilfe des Rastertunnelmikroskopes können die Oberflächen elektrisch leitfähiger Materialien in atomarer Auflösung mikroskopiert werden. Die Spitze eines Platin-Iridium Drahtes dient hierzu als Sonde, welche die Probenoberfläche scannt. Das STM wird hier im Konstantstrom-Modus betrieben, d.h gemessen wird der Tunnelstrom der zwischen Spitze und Probenoberfläche fließt und über einen Regelkreis durch stetige Veränderung des Abstandes zur Probenoberfläche konstant gehalten wird. Aus dieser Regelgröße als Funktion der X-und Y-Position, wird ein Bild der elektronischen Topographie der Probenoberfläche generiert. Die im Versuch eingesetzte Probe ist Graphit.